DUALSCOPE® MP0 涂層測厚儀原版技術參數(shù)
涂鍍層測厚儀DUALSCOPE® MP0
—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡便、
高精度測量涂鍍層厚度的理想選擇
新款DUALSCOPE®MP0采用廣受認可的Fischer探頭
技術，是為小巧并能大程度滿足您測量需要的
儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不
復雜工件的現(xiàn)場測量尤為理想。內置探頭，采用磁
感應及電渦流方法，可快速無損地測量涂鍍層厚
度。DUALSCOPE®MP0自動識別基材例如鐵或鋁并選擇適
合的測量方法。可顯示重要的統(tǒng)計參數(shù)。由于有著
出色的重復精度及統(tǒng)一標準的校準功能，使得這款儀
器在同級別產品中****。
袖珍儀器中的技術
DUALSCOPE®MP0有以下技術特點及優(yōu)勢：
• 可在所有的金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測
量
• 儀器自動識別鍍層下的基材材料并選擇相應的測量
方法
• 出色的重復精度
• 受基材透磁率、電導率和幾何形狀（曲率和厚度
等）影響小
• 享有**的電導率補償技術（電渦流方法）
• 足夠小巧，甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進行可
靠的測量
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